單粒子效應試驗標硅

    GJB7242和QJ10005~⒛08是國內半導體器件進行重離子單粒子效應試驗的通用標準。GJB7γ2-20I1是國家軍用標準,而QJ10005―2008是航天行業標準,二者的內容基本相同,其主要內容如表3-14所示。G690L293T73UF

   關干單粒子試驗流程,GJB7⒉2―⒛1l中給出了單粒子翻轉(SEU)和單粒子鎖定(sEL)試驗流程示意圖,具體流程如圖3-17和圖3-18所示。

    圖3-17 單粒子鎖定(sEL)試驗流程示意圖

   由于每一種器件的單粒子效應的表征形式各不相同,不同器件的單粒子效應測試系統有很大的區別。單粒子效應測試系統的結構由被試器件的類型和功能決定,GJB”緄-201l和QJ lO005―2008對單粒子測試系統提出了如下要求:

   (1)能夠對器件進行初始化設置;

   (2)能夠對器件進行功能測試,具有良好的測試覆蓋性;

   (3)具有單粒子效應的診斷和記錄功能;

   (4)具有自動復位或手動復位功能;

   (5)具有良好的抗電磁干擾能力;

   (6)具有可控的有效測試時間、電流監測和鎖定損傷保護能力。