確定試驗源以后,需要根據器件的結構性能確定試驗離子的種類和數量。單粒子GAL16V8D-15LPN試驗的目的是通過試驗獲得單粒子截面σ―LET關系曲線,并根據關系曲線進行單粒子事件率的預估,因此,需要選擇合適的、足夠的有效LET數據點。如果選取過少,所擬合得到的單粒子截面σ―LET關系曲線誤差過大,不夠準確。一般情況下,為了得到單粒子截面σ-LET關系曲線,至少選用具備5種以上不同的有效LET值的離子,并且離子的有效LET應能覆蓋被試器件從剛開始出現單粒子事件到單粒子事件達到飽和截面所對應的LET范圍。對于器件的單粒子時間LET閾值范圍可以通過摸底試驗獲得,也可以參照與被試器件結構、工藝最接近的器件的單粒子試驗數據進行估計。

    另外,應在試驗方案中確定離子的入射角度、注量率,以及每種離子的輻照總注量。

   單粒子效應類型和檢測系統

   在單粒子試驗過程中,測試器件的單粒子效應是一項復雜的技術,不同的器件類型具有不同的單粒子效應,如存儲器類的單粒子翻轉、DαDC器件的單粒子瞬態和單粒子燒毀等。而且,對同一器件,不同的測試方法或不同的測試程序,其測試結果往往不相同,甚至相差很大。

    因此,需要在試驗方案中確定需要測試的單粒子效應、方法和程序。在下一節中將會給出幾種不同類型器件的單粒子效應測試方法。

   試驗流程

   單粒子試驗流程可以參考圖3-17和圖3-18制定。