從圖22可以看出,產品的失效有三個階段,早期失效期、偶然失效期和耗損失效期。早期失效期的特點是開始時失效率高,后來逐漸降低。這類失效是由于產品存在先天不足的缺陷造成的,可通過篩選的手段剔除此類早期失效的產品。 HCPL-5630偶然失效期的特點是產品失效率低而穩定,是產品最良好的工作階段。耗損失效期的特點是產品的失效率隨工作時間的增長而上升,這類失效是由于長期疲勞造成物理化學性能變化而引起的。可靠性工作要采取預防性檢修的辦法來提前更換接近耗損期的元器件,或采取發展長壽命元器件的辦法來延長產品的使用壽命。

   通常采用每小時百分之一或千小時的百分之一作為產品失效率的單位,但對具有高可靠要求的產品來說,需采用更小的單位。現在常采用菲特(∏T)作為基準單位。

   這表示每千小時只允許有百萬分之一的失效概率。

    按照我國標準的規定,電子元器件的失效率可分為七個等級,見表⒉l。在GB/T17”-79標準中,失效率試驗分為定級試驗、維持試驗和升級試驗三種,試驗方案在該標準中有明確的要求,其試驗項目、試驗條件、失效標準、置信度等均應由相關產品規范的可靠性試驗要求中規定。特殊試驗是指針對特殊用途的產品制定的試驗項目。例如,單粒子效應試驗、穩態總劑量輻射試驗、位移損傷效應試驗、熱真空試驗、鍍錫(錫合金)晶須生長試驗等,是為了使產品適應空間環境而制定的試驗項目,不是一般常規檢驗項目。