原理概要

   響應率、響應率不均勻性、噪聲、探測率和有效像元率等參數的測試,可歸結為兩種輻照條件下的響應電壓測試。即背景輻照條件下的響應電壓測試和背景加黑體輻照條件下的響應電壓測試,簡稱背景響應電壓測試和黑體響應電壓測試。GS84036AB-166這兩種輻照都必須是恒定均勻的。在測得背景響應電壓和黑體響應電壓后,響應率等各特性參數可根據定義計算得到。

   測試方法

   測試系統如圖10名所示,包括黑體源、杜瓦瓶、電子電路及計算機四大部分。

   測試條件如下:

   (a)黑體源溫度范圍:室溫~1000K,輸出不加調制;

   (b)黑體輻射面元尺寸應大于被測焦平面的尺寸,以保證焦平面各像元均勻輻照;

   (c)焦平面的輸出信號電壓經放大和預處理后,不得超過ⅣD轉換器的動態范圍。

   響應電壓測試

   利用圖10-3所示的測試系統,分別在背景條件(一般取293Κ黑體)及黑體加背景條件(一般取308K黑體)下,連續采集F幀數據(一般取F≥100),(若被測器件為線列焦平面,則連續采集F行數據),得到如圖10叫所示的2組F幀兩維數組。在背景條件下,測得的F幀兩維數組為‰s[(',力,背景,/⒈在黑體加背景條件下,測得的F幀兩維數組為‰s[(F,D,背景+黑體.