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單位體積內通道密度高的特點

發布時間:2020/4/17 18:24:12 訪問次數:794

多年打造的高精度、大動態、插卡式源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,最大輸出電壓達60V,最大輸出電流達2A,支持四象限工作,因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。CS系列源表適用于各行各業使用者,特別適合現代半導體、納米器件和材料、有機半導體、印刷電子技術以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

CS系列源表由SMU CS控制機箱、SMU CS100源測量單元子卡、SMU CS200源測量單元子卡等組成,不同的子卡間電氣隔離。CS100子卡為單卡單通道;CS204為單卡4通道,卡內4通道共地。CS系列相比S系列具有單位體積內通道密度更高的特點,一臺SMU CS控制機箱內最多支持10塊子卡,若全使用CS100子卡即可支持達10通道,若全使用CS204子卡即可支持達40通道。用戶針對實際情況可以選擇不同的子卡實現最優性價比搭配。

 


制造商IC編號

K4B4G1646E-BCNB

廠牌

SAMSUNG/三星

IC 類別

DDR3 SDRAM

IC代碼

256MX16 DDR3

共通IC編號

產品詳情

腳位/封裝

FBGA-96

外包裝

TRAY

無鉛/環保

無鉛/環保

電壓(伏)

1.5 V

溫度規格

0°C~+85°C

速度

2133(MT/s)

標準包裝數量

1120

標準外箱

潛在應用

INDUSTRIAL COMPUTER/PC DIGITAL BOARD/工業電腦/ PC數位板

R&D DESIGN HOUSE/研發/設計

SMART TV/MONITOR/TFT/LCD TV-MAKER/顯示器/智能電視製造商

Number Of Words

256M

Bit Organization

x16

Density

4G

Internal Banks

8 Banks

Generation

6th Generation

Power

Normal Power

 

產品應用

 納米材料特性測試,石墨烯、納米線等

有機材料特性測試,電子墨水、印刷電子技術等

能量與效率特性測試,LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等

分立半導體器件特性測試,電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC等

傳感器特性測試,電阻率、霍爾效應等

深圳市斌能達電子科技有限公司http://jkic888.51dzw.com/

(素材來源:eechina和ttic.如涉版權請聯系刪除。特別感謝)


 

 

多年打造的高精度、大動態、插卡式源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,最大輸出電壓達60V,最大輸出電流達2A,支持四象限工作,因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。CS系列源表適用于各行各業使用者,特別適合現代半導體、納米器件和材料、有機半導體、印刷電子技術以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

CS系列源表由SMU CS控制機箱、SMU CS100源測量單元子卡、SMU CS200源測量單元子卡等組成,不同的子卡間電氣隔離。CS100子卡為單卡單通道;CS204為單卡4通道,卡內4通道共地。CS系列相比S系列具有單位體積內通道密度更高的特點,一臺SMU CS控制機箱內最多支持10塊子卡,若全使用CS100子卡即可支持達10通道,若全使用CS204子卡即可支持達40通道。用戶針對實際情況可以選擇不同的子卡實現最優性價比搭配。

 


制造商IC編號

K4B4G1646E-BCNB

廠牌

SAMSUNG/三星

IC 類別

DDR3 SDRAM

IC代碼

256MX16 DDR3

共通IC編號

產品詳情

腳位/封裝

FBGA-96

外包裝

TRAY

無鉛/環保

無鉛/環保

電壓(伏)

1.5 V

溫度規格

0°C~+85°C

速度

2133(MT/s)

標準包裝數量

1120

標準外箱

潛在應用

INDUSTRIAL COMPUTER/PC DIGITAL BOARD/工業電腦/ PC數位板

R&D DESIGN HOUSE/研發/設計

SMART TV/MONITOR/TFT/LCD TV-MAKER/顯示器/智能電視製造商

Number Of Words

256M

Bit Organization

x16

Density

4G

Internal Banks

8 Banks

Generation

6th Generation

Power

Normal Power

 

產品應用

 納米材料特性測試,石墨烯、納米線等

有機材料特性測試,電子墨水、印刷電子技術等

能量與效率特性測試,LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等

分立半導體器件特性測試,電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC等

傳感器特性測試,電阻率、霍爾效應等

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