MKP1847C交流濾波電容器可承受苛刻的溫濕度偏壓測試
發布時間:2021/7/13 7:59:01 訪問次數:298
交流濾波金屬化聚丙烯薄膜電容器---MKP1847C交流濾波。
Vishay Roederstein MKP1847C交流濾波電容器可承受苛刻的溫濕度偏壓（THB）測試—在額定電壓，溫度40 °C，相對濕度93 %條件下測試長達56天—器件電氣性能未發生變化。
日前發布的電容器惡劣環境條件下工作時，確保容量和ESR值穩定，使用壽命周期長。
與上一代器件相比，在相同封裝尺寸的情況下，MKP1847C交流濾波系列電容器具有更高濕度穩健性并降低了成本。
制造商:Texas Instruments產品種類:ARM微控制器 - MCURoHS: 詳細信息系列:LM3S9B95安裝風格:SMD/SMT封裝 / 箱體:nFBGA-108核心:ARM Cortex M3程序存儲器大小:256 kB數據總線寬度:32 bitADC分辨率:10 bit最大時鐘頻率:80 MHz輸入/輸出端數量:65 I/O數據 RAM 大小:96 kB工作電源電壓:1.3 V最小工作溫度:- 40 C最大工作溫度:+ 85 C封裝:Tray產品:MCU程序存儲器類型:Flash商標:Texas Instruments數據 Ram 類型:SRAM接口類型:I2C, SPI, UARTI/O 電壓:3.3 VADC通道數量:16 Channel計時器/計數器數量:5 Timer處理器系列:Stellaris產品類型:ARM Microcontrollers - MCU工廠包裝數量:184子類別:Microcontrollers - MCU電源電壓-最大:1.365 V電源電壓-最小:1.235 V商標名:Stellaris
Surfscan SP A2/A3無圖案晶圓檢測儀結合了DUV光學系統和先進算法，讓系統的靈敏度和速度足以在汽車芯片上識別并消除可能產生可靠性問題的工藝缺陷，也確保工藝設備以最佳的性能運行。
對于研發和批量生產，C205圖案晶圓檢測儀采用了寬波段光譜和 NanoPoint™技術，因而使其對于關鍵缺陷高度靈敏，有助于加快新工藝和器件的優化。
對于批量制造，8935圖案晶圓檢測儀采用新的光學技術和DefectWise® AI解決方案，能夠以低噪比率捕獲各種關鍵缺陷，并快速準確地識別可能影響芯片最終質量的工藝偏差。
(素材來源：eccn和ttic.如涉版權請聯系刪除。特別感謝）
交流濾波金屬化聚丙烯薄膜電容器---MKP1847C交流濾波。
Vishay Roederstein MKP1847C交流濾波電容器可承受苛刻的溫濕度偏壓（THB）測試—在額定電壓，溫度40 °C，相對濕度93 %條件下測試長達56天—器件電氣性能未發生變化。
日前發布的電容器惡劣環境條件下工作時，確保容量和ESR值穩定，使用壽命周期長。
與上一代器件相比，在相同封裝尺寸的情況下，MKP1847C交流濾波系列電容器具有更高濕度穩健性并降低了成本。
制造商:Texas Instruments產品種類:ARM微控制器 - MCURoHS: 詳細信息系列:LM3S9B95安裝風格:SMD/SMT封裝 / 箱體:nFBGA-108核心:ARM Cortex M3程序存儲器大小:256 kB數據總線寬度:32 bitADC分辨率:10 bit最大時鐘頻率:80 MHz輸入/輸出端數量:65 I/O數據 RAM 大小:96 kB工作電源電壓:1.3 V最小工作溫度:- 40 C最大工作溫度:+ 85 C封裝:Tray產品:MCU程序存儲器類型:Flash商標:Texas Instruments數據 Ram 類型:SRAM接口類型:I2C, SPI, UARTI/O 電壓:3.3 VADC通道數量:16 Channel計時器/計數器數量:5 Timer處理器系列:Stellaris產品類型:ARM Microcontrollers - MCU工廠包裝數量:184子類別:Microcontrollers - MCU電源電壓-最大:1.365 V電源電壓-最小:1.235 V商標名:Stellaris
Surfscan SP A2/A3無圖案晶圓檢測儀結合了DUV光學系統和先進算法，讓系統的靈敏度和速度足以在汽車芯片上識別并消除可能產生可靠性問題的工藝缺陷，也確保工藝設備以最佳的性能運行。
對于研發和批量生產，C205圖案晶圓檢測儀采用了寬波段光譜和 NanoPoint™技術，因而使其對于關鍵缺陷高度靈敏，有助于加快新工藝和器件的優化。
對于批量制造，8935圖案晶圓檢測儀采用新的光學技術和DefectWise® AI解決方案，能夠以低噪比率捕獲各種關鍵缺陷，并快速準確地識別可能影響芯片最終質量的工藝偏差。
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