從上面的調試接口示意圖可以知道，jtag測試信號由下面5個信號組成。

　　trst：測試復位輸入信號，測試接口初始化

　　tck：測試時鐘，在tck時鐘的同步作用下，通過tdi和tdo引腳串行移入／移出數據或指令；同時，也為tap（測試訪問端口）控制器的狀態機提供時鐘。

　　tms：測試模式選擇信號，控制測試接口狀態機的操作。

　　tdi：測試數據輸入線，其串行輸入數據至邊界掃描寄存器或指令寄存器（由tap控制器的當前狀態及己保存在指令寄存器中的指令來控制）。

　　tdo：測試數據輸出線，把從邊界掃描鏈采樣的數據傳輸至串行測試電路中的下一個芯片。

　　jtag可以對同一塊電路板上多塊芯片進行測試。trst、tck和tms信號并行至各個芯片，而一塊芯片的tdo接至下一芯片的tdi。jtag的時序圖如圖所示。

　　圖 jtag時序圖

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