相位測量
發布時間:2011/8/8 14:53:15 訪問次數:1906
所謂相位測量，通常是指對兩個同頻率信號之間相位差的測量，如測量放大電路的輸出信號相對于輸入信號的相移特性等。
用雙蹤示波器測量兩個信號之間相位差的方法最直觀、簡便。測量時要先選擇通道1或通道2為觸發源，再調整觸發電平，使兩個信號的波形穩定地顯示在示波器的屏 幕上，如圖2-6所示，然后比較所觀測信號間的相位差。
所謂相位測量，通常是指對兩個同頻率信號之間相位差的測量，如測量放大電路的輸出信號相對于輸入信號的相移特性等。
用雙蹤示波器測量兩個信號之間相位差的方法最直觀、簡便。測量時要先選擇通道1或通道2為觸發源，再調整觸發電平，使兩個信號的波形穩定地顯示在示波器的屏 幕上，如圖2-6所示，然后比較所觀測信號間的相位差。
相關技術資料- 11-2712位模數轉換器 (ADC)參數特點技術封裝
- 11-27三角函數加速器 (TMU)系列
- 11-27單芯片“艙行泊”一體化方案探究
- 11-27CoolSiC肖特基二極管技術參數應用設計
- 11-27納微GaN Safe系列NV6515（650V,32mΩ max）IC
- 11-27臨界導通模式（CrM）詳情
- 11-27GaN HEMT IC+Si MOSFET組合
- 11-26可編程多路復用通用輸入/輸出 (GPIO)
- 11-26全新實時微控制器系列優特點封裝設計
- 11-26新款四維圖艙行泊一體單芯片SoC解決方案
- 11-26Easy1B/2B系列功率模塊優勢特點及應用
- 11-26EiceDriver系列柵極驅動芯片的研究與應用
熱門點擊
公網安備44030402000607
