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電子元器件常規失效

發布時間:2012/4/25 19:19:42 訪問次數:601

    元器件常規失效是混合電路CY7C1021DV33-10ZSXI失效的主要原因之一。數據表明,}昆合電路因電子元器件造成失效的比例占總失效的30%以上。其中以半導體芯片、片式陶瓷電容器、片式鉭電容器為多。究其原因又可分為以下幾點:
    ①電子元器件參數漂移。
    ②電子元器件制造工藝缺陷。
    ③電子元器件組裝工藝不良,如鍵合、粘接、焊接不良等。
    ④過電應力損傷,如電壓尖峰、靜電、過電流等。
    ⑤漏檢。
    控制元器件常規失效的措施主要有:
    ①合理選用適當質量等級的電子元器件。
    ②嚴格執行電子元器件來料評價和驗證,必要時進行適當的100%篩選。
    ③嚴格執行封帽前目檢規定。
    ④嚴格執行產品篩選試驗。
    ⑤重視對生產、篩選中不合格品的分析、控制。
    ⑥避免過電應力損傷及不當使用。
    元器件常規失效是混合電路CY7C1021DV33-10ZSXI失效的主要原因之一。數據表明,}昆合電路因電子元器件造成失效的比例占總失效的30%以上。其中以半導體芯片、片式陶瓷電容器、片式鉭電容器為多。究其原因又可分為以下幾點:
    ①電子元器件參數漂移。
    ②電子元器件制造工藝缺陷。
    ③電子元器件組裝工藝不良,如鍵合、粘接、焊接不良等。
    ④過電應力損傷,如電壓尖峰、靜電、過電流等。
    ⑤漏檢。
    控制元器件常規失效的措施主要有:
    ①合理選用適當質量等級的電子元器件。
    ②嚴格執行電子元器件來料評價和驗證,必要時進行適當的100%篩選。
    ③嚴格執行封帽前目檢規定。
    ④嚴格執行產品篩選試驗。
    ⑤重視對生產、篩選中不合格品的分析、控制。
    ⑥避免過電應力損傷及不當使用。
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4-25電子元器件常規失效

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