高頻用阻抗測試儀器MC6875L的種類.用于高頻電路的LCR元件與低頻元件不同，高頻電路中將產生雜散電感，雜散電容以及由集膚效應引起的有效電阻等。
    測量高頻元件時，阻抗的測量方法如表5.6所示。Q表是應用LC諧振原理制成的儀表。高頻電橋稱為辛克萊電橋，測量頻率可達200MHz。高頻LCR測量儀表與低頻LCR測量儀表在原理上是相同的。阻抗測試儀除LCR參數測試儀的測量項目外，還可在不同頻率下自動測量阻抗的絕對值和相位角（izi和么口）。圖5. 99為一種阻抗測試儀的外觀。下面著重說明Q表的原理及其測量方法。

    Q表的原理.Q表是利用高頻下的LC串聯諧振原理制成的測量儀表，可用來
測量線圈或電容器的Q值。此外還可用來測量電感和電容值。圖5. 100為Q表的原理圖。OSC為標準可變振蕩器，A是熱電式高頻電流表，V是裝有Q值標尺的電子電壓表，C。是標準可變空氣電容器。R。為無感電阻，振蕩器的高頻電流流過無感電阻并產生電壓V．。測量端子a、a 7與被測線圈L。連接，由可變電容器C。進行調諧（調節C。使電子電壓表V的指示值為最大）。
    從電子電壓表V中讀取C。的端子電壓Vz，則Q值為V2與Vl的比值，即
    Q=魯
    通常V．都調整為常值，因此V：的指示值即為Q值。圖5. 101為一種Q表的外觀。