正如第12章所指出的，數碼電子產品能夠產生共模輻射或差模輻射。NP100N055PUH上述電纜電流測量可以提供共模輻射機制的信息，下面需要的是一些差模輻射的信息。差模輻射是電流流避印制電路板上的環形回路產生的，這些電流環作為小環形天線輻射磁場。所以你能夠做的就是測量印制電路板附近的磁場。這些能夠用類似于圖2-29(c)所示的小屏蔽環形探頭測量。

   Scott Roleson 1984年在EDN論文中(Roleson，1984)描述了這種環形探頭的設計與結構，這種磁場探頭的結構如圖18-4所示。這篇論文中所描述的探頭的商業版可用像來自Fischer Custom Communications的F-301型屏蔽環形傳感器（見圖18-5）。環的直徑大約314in，使用的頻率范圍10～500MHz。雖然探頭能夠在磁場中校準，近場測量的結果不能外推到遠場，從而確定輻射的大小。關于近場和遠場更多的討論見6.1節。因此，用這種探頭做的測量是定性的而不是定量的。但是在對產品做改造或修改時，這些測量對于確定差模輻射的源以及對A和B做比較仍然是有用的。

   對于上述的磁場探頭，有一種替代的方法，利用50fl,同軸電纜作一個自制的簡易探頭。

   把電纜一端的內導體焊接到屏蔽層上，作成直徑為3/4～lin的環，如圖18-6所示，這一端的屏蔽應斷開。雖然在屏蔽電場方面不像“Roleson探頭”那樣好，它的性能對于大多數先期應用一般是足夠的。這種探頭的優點是便宜并且容易制作。采用這種結構的商業探頭也是可用的，例如EMCO (ETS Lindgren) 7405近場探頭組或者A.R．A技術的HFP-7410探頭組，這兩組探頭包括磁場探頭和電場探頭。