光電儀器精度的高低， E0A3R在某種程度上還取決于它的定位系統精度。因此定位系統是光電儀器中的一個重要組成部分，特別是對高精度的儀器尤為重要。

   儀器的校準是將儀器的響應示值與其啟動信號或與通過其他方法測得的真實值相聯系的過程，校準的對象是測量儀器、實物量具或測量系統，也包括各單位、各部門的計量標準裝置，其目的是通過與標準比較確定測量裝置的示值，也就是用測量標準去測量被校準量。如lQ的標準電阻，雖然其標稱值為lQ，但經校準其量值為0.9n。校準技術是測量儀器的基礎，也是其關鍵技術。研究高精度校準技術對系統整體性能的提高起著重要作用。

   在測量過程中，為了正確地感受被測信號，應把被測對象的被測尺寸線與儀器測量線的相對位置確定下來，因此必須定位。在光電儀器中可用光、機、電等多種定位方式。

   用測量手段檢測光電儀器中精密機械部分（或其他部分）運動位置精度的系統，稱為儀器的定位系統。定位系統可分為開環控制系統和閉環控制系統。

   開環控制系統如圖4 -1所示。電機1通過帶傳動2、蝸輪蝸桿3和螺旋傳動4，帶動工作臺5運動。開環控制的原理框圖如圖4 -2所示。開環控制系統不采用任倆反饋元件，它的運動位置精度主要取決于執行元件的精度和精密機械本身的加工精度。它的優點是系統比較簡單；調整、使用和維修較方便；工作穩定可靠；成本低。其缺點是精度比較低，一般只能達到io rim級精度如測量顯微鏡，故只適用于低精度的儀器中。由于它的優點比較突出，近年來隨著精密機械的進步，元件本身的加工精度不斷提高，開環控制系統也可達到微米級的精度。盡管開環系統優點很多，但達到的精度畢竟是有限的，所以開環控制系統已遠遠不能滿足現代精密光電儀器的高精度和自動化的要求。