隧道/隔段概念
發布時間:2015/10/26 21:45:35 訪問次數:442
隨著更嚴格的顆粒控制成為必要,VLF型工作臺就產生了一些缺點、其中主要是由于車HEF4013BTR間中眾多作人員的移動而產生的易污染性。進出于加工車間的T作人員對所有流程的【作臺都有潛在的污染?
把加工車間分割為不同的隧道可解決人員污染問題(見圖5. 11)。這時VLF型過濾器被裝于車間天花板上,而不是在單獨工作臺中,但是起的作用相同。經過天花板中的過濾器流入的空氣可保持繼續潔凈,井且會降低人員產生的污染,這是因為減少了作臺周圍的工作人員。但這種方法的缺點是建造費用較高,而且不適于工藝改動。
設備和設施設計的趨勢已經變為將晶圓與污染源隔離(見圖5. 12)。VLF罩將晶圓與室內空氣隔離,并通過隧道將晶圓與過度人員暴露隔離。CMOS集成電路的出現增加r工藝步驟數并要求在凈化間包含更多藝平臺。
這些更大的房問(和隧道)給他們帶來f由于空氣總量和操作者數量增加的潛在污染。
隨著更嚴格的顆粒控制成為必要,VLF型工作臺就產生了一些缺點、其中主要是由于車HEF4013BTR間中眾多作人員的移動而產生的易污染性。進出于加工車間的T作人員對所有流程的【作臺都有潛在的污染?
把加工車間分割為不同的隧道可解決人員污染問題(見圖5. 11)。這時VLF型過濾器被裝于車間天花板上,而不是在單獨工作臺中,但是起的作用相同。經過天花板中的過濾器流入的空氣可保持繼續潔凈,井且會降低人員產生的污染,這是因為減少了作臺周圍的工作人員。但這種方法的缺點是建造費用較高,而且不適于工藝改動。
設備和設施設計的趨勢已經變為將晶圓與污染源隔離(見圖5. 12)。VLF罩將晶圓與室內空氣隔離,并通過隧道將晶圓與過度人員暴露隔離。CMOS集成電路的出現增加r工藝步驟數并要求在凈化間包含更多藝平臺。
這些更大的房問(和隧道)給他們帶來f由于空氣總量和操作者數量增加的潛在污染。
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