漫反射光譜測試原理-Kubelka-Munk函數
發布時間:2016/2/18 20:18:12 訪問次數:11197
如果樣品是粉末狀或表面很粗糙,那么利用透射光測量得到吸收光譜是不可能的,而要EL8103IW-T7采用漫反射測量技術。漫反射光譜是為了測量農產品、燃料、顏料等物質成分發展起來的。
近紅外漫反射光譜測量的基本原理是Kubelka-Munk函數。一束近紅外光入射到被測樣品(通常為粉末狀),R為樣品漫反射的反射率;S為單位長度厚度的散射系數;后為單位長度吸收系數,函數F(R)為Kubelka-Munk函數。
在實際應用中,通常采用吸光度法。定義反射吸光度.
當樣品濃度不太高時,F(R)與濃度C成正比.
因此,可以通過測量R來得到F(R),再根據F(R)與濃度C的線性關系來定量測量樣品組分濃度。當樣品含有多種成分時,則總吸收系數七為各成分的吸收系數ki,k2,…之和,總散射系數S為各成分的散射系數Sl,S2,…之和。并且可以得到總的反射吸光度
如果樣品是粉末狀或表面很粗糙,那么利用透射光測量得到吸收光譜是不可能的,而要EL8103IW-T7采用漫反射測量技術。漫反射光譜是為了測量農產品、燃料、顏料等物質成分發展起來的。
近紅外漫反射光譜測量的基本原理是Kubelka-Munk函數。一束近紅外光入射到被測樣品(通常為粉末狀),R為樣品漫反射的反射率;S為單位長度厚度的散射系數;后為單位長度吸收系數,函數F(R)為Kubelka-Munk函數。
在實際應用中,通常采用吸光度法。定義反射吸光度.
當樣品濃度不太高時,F(R)與濃度C成正比.
因此,可以通過測量R來得到F(R),再根據F(R)與濃度C的線性關系來定量測量樣品組分濃度。當樣品含有多種成分時,則總吸收系數七為各成分的吸收系數ki,k2,…之和,總散射系數S為各成分的散射系數Sl,S2,…之和。并且可以得到總的反射吸光度
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