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離子殘留物(儀器測量)

發布時間:2016/5/22 17:32:04 訪問次數:410

   離子殘留物(儀器測量)

   應執行IPC-TM-650中2,3,26或2.3.26,1的測試方法。離子殘留物的含量應少于1.56Itg/c'氯化鈉(Nac1)當量。 G916-330TOUF如果采用其他方法檢測,其靈敏度不應低于上述方法。

   離子殘留物(人工測量)

   應執行IPC-TM-650中2.3.25的溶劑萃取測試方法,且離子殘留物的含量應少于1.56Itg/cm2氯化鈉(Nacl)當量。如果采用其他方法檢測,其靈敏度不應低于上述方法。

   表面絕緣電阻(sIR)

   可以采用通/斷的方法進行檢測,但該方法應經過驗證且便于評估。

   其他有機雜質

   應執行IPC-TM-650中2.3.38的表面有機雜質檢查測試方法(室內測試)。含量不應超過客戶與制造商之間確認的協議要求。

   離子殘留物(儀器測量)

   應執行IPC-TM-650中2,3,26或2.3.26,1的測試方法。離子殘留物的含量應少于1.56Itg/c'氯化鈉(Nac1)當量。 G916-330TOUF如果采用其他方法檢測,其靈敏度不應低于上述方法。

   離子殘留物(人工測量)

   應執行IPC-TM-650中2.3.25的溶劑萃取測試方法,且離子殘留物的含量應少于1.56Itg/cm2氯化鈉(Nacl)當量。如果采用其他方法檢測,其靈敏度不應低于上述方法。

   表面絕緣電阻(sIR)

   可以采用通/斷的方法進行檢測,但該方法應經過驗證且便于評估。

   其他有機雜質

   應執行IPC-TM-650中2.3.38的表面有機雜質檢查測試方法(室內測試)。含量不應超過客戶與制造商之間確認的協議要求。

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