(1)X射線雙晶衍射

   X射線雙晶衍射方法是研究JANTX2N6782外延捌料組分和晶體結構的重要實驗方法,是研究超晶格及多量子阱結構性質的有序手段c

   (2)霍爾效應分析儀

   霍爾效應是指固體材料中的載流子在外加磁場中運動時,受到洛倫茲力的作用而使軌跡發生偏移,并在材料兩側產生電荷積累,形垂直于電流方向的電場,最終使載流子受到的洛倫茲力與電場斥力相平衡,在兩側建立起一個穩定的電勢差。這個電勢差稱為霍爾電壓。霍爾效應分析儀作為測定半導體材料電磁特性的儀器,可以得到材料的載流子濃度、遷移率、電阻率及霍爾系數等參數。

   (3)原子力顯微鏡(AFM)

   原子力顯微鏡是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡,利用原子之間的作用力探測出樣品的三維表面圖。AFM的關鍵部件是一端帶有尖細探針的微觀懸臂,用以掃描樣品表面,感應原子間的作用力,如圖5-18所示。激光束經過光學系統聚焦在微懸臂背面,并被反射到由光電二極管構成的檢測器。當探針在距離樣品表面l~3nm的位置掃描時,由于樣品表面原子與探針原子之間的作用力,微懸臂將隨樣品表面形貌而彎曲起伏,反射光束也隨之偏移。因此,通過光電二極管檢測光斑位置的變化,就可獲得樣品表面形貌的信息。