在幾何光學的成像過程中, K4S561632J-UI75假設從物點發出多條光線,由于光學系統像差存在,這些光線在像面上將不會集中于一點,而是形成一個分布在一定范圍內的彌散圖形,這一彌散圖形就稱為該光學系統在該視場方向上的點列圖。

   利用光學系統在給定方向上的點列圖中點集的密集程度來衡量光學系統的成像質量的方法就被稱為點列圖法[1:]。

   點列圖法實際上是采用大量光線追跡的方法獲取從物點發出的不同指向(對應人瞳平面上的不同位置)不同波長的光線在像面上的分布況,如圖3-犭所示。在大量光線追跡的前提下,像面上光線點跡分布密度就代表了像點的光強分布情況。

   使用點列圖時,通常用一定能量集中度的彌散斑直徑來評價像質[3]。例如:能量集中度為gO%的彌散斑直徑為30um,是指所有的追跡光線中有⒇%的點落在以彌散斑質心為中心的直徑為30um的圓內。而彌散斑直徑的倒數即為光學系統的分辨率。

   實驗表明:在大像差光學系統中,用幾何光線追跡所確定的光能分布與實際成像情況的光強度分布是相當符合的[3]。

  利用點列圖來評價光學系統的成像質量時,要進行大量光線的光路追跡運算,通常要計算數百條甚至數萬條光線,計算量非常大,只有在利計算機進行輔助計算的情況下才能實現。然而這種方法又是一種簡便易行而且直觀的光學系統成像質量評價方法,常在像差較大的照相物鏡等光學系統的設計中得到應用[1:]。