低溫軸,將樣品移出潮濕箱,或降低箱內溫度,以便進行低溫子循環。在低溫子循環期間,樣品應在△0℃±2°C和不控制濕度的條件下,如圖2-3所示至少保持3h。PAT3012若不使用另一個低溫箱,應注意保證樣品在整個周期內保持在低溫△0°C±2°C子循環后,樣品應恢復為25℃,相對濕度(RH)至少為80%,并一直保持到下一個循環的開始。雖然沒有規定箱內的溫度變化率,但是,在溫度變化過程中,樣品不應受到箱內加熱體的直接熱輻射。箱內的空氣每分鐘的換氣量至少等于箱的容積的5倍。緊靠樣品的各點和箱體內表面上的穩態溫度容差為所規定溫度的±2°C。對質量不大于11.4kg的樣品,在試驗箱間的轉移時間應少于2min;若使用一箱法,則應在15min內達到10℃。

   最終測量。在最后一次循環的第6步之后(或在第10次循環期間完低溫子循環,則在第7步之后),器件應在室溫環境條件下放置γh,然后按GJB548B-2005方法1003的試驗條件A進行絕緣電阻測試,或在25℃下進行規定的終點電測試。電測試可以在放置的⒉h期間進行,但是,對于測量失效的樣品,在2Hll放置期間不得進行其他試驗(如密封試驗)。絕緣電阻測試或在25℃終點測量應在器件移出試驗箱后的4Sll內完成。進行絕緣電阻測試時,測得的電阻值不得小于10MΩ,并且應記錄測試結果,其數據作為終點數據的一部分提交。如果把封裝外殼設計成與芯片基板電連接,則不必進行絕緣電阻測試,而應在器件移出試驗箱后的48h內完成規定的25℃終點電測試。還應進行目檢和任何其他規定的終點電參數測量。