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頻率的速率對輸入信號進行采樣

發布時間:2020/11/14 12:08:39 訪問次數:1179

需要高編碼器精度的一個例子是當電機以較低速度運行時,即電機開始減速,然后到達目標位置的情況。使用AD7380的片內過采樣技術可對正弦和余弦信號進行數字濾波,從而實現高動態范圍。增強的正弦和余弦轉換導致角位置精度更高,這在很多應用中是必需的,例如將微型元器件安裝到印刷電路板(PCB)的取放機器,或工業機械中用于運輸和移動載荷到特定位置的機械臂。

過采樣是一種數據處理技術,可使ADC提供準確轉換結果。SAR ADC過去在通過微控制器、DSP或FPGA進行的后處理中使用了這種技術。ADI公司的高速SAR ADC系列,例如AD7380,已將此功能集成到兩種片內過采樣技術中,即正常平均和滾動平均。通過SDOx引腳可以直接而快速地獲得平均轉換結果,成效顯著,并立即體現在ADC參數中,例如SNR和全動態范圍。

制造商:Amphenol產品種類:環形MIL規格連接器RoHS:是位置數量:18 Position插入安排:14-18觸點類型:Pin (Male)MIL 類型:MIL-DTL-26482 II產品:Receptacles外殼大小:14外殼類型:Wall Mount安裝風格:Wall端接類型:Crimp電流額定值:7.5 A系列:Matrix 26482 II安裝角:Straight電壓額定值:600 V商標:Amphenol Aerospace外殼電鍍:Electroless Nickel匹配樣式:Bayonet產品類型:Circular MIL Spec Connector外殼材質:Aluminum工廠包裝數量:1子類別:Circular Connectors商標名:26482線規:24-20


平均濾波后的噪聲,根據奈奎斯特理論(fSAMPLING ≥ (2 × fIN)),為了準確重構信號,必須以至少兩倍于目標最大頻率的速率對輸入信號進行采樣。為使過采樣發生,也要遵循同樣的標準。過采樣會降低信號的噪聲,導致系統SNR增加,從而分辨率得以提高(假設沒有明顯的失真成分)。

過采樣是一種數字信號處理技術,采集樣本后取其平均值。數據樣本平均類似低通濾波器。

在AD7380 SAR ADC系列中,正常平均過采樣是在芯片內實現,最多可以收集32個平均樣本。只要使能此技術,AD7380就會自動采集M個轉換樣本,然后輸出平均轉換結果。轉換結果是否可獲得取決于所采集的M個樣本,后者由AD7380系列的CONFIGURATION1寄存器中OSR位的過采樣率設置。當M個樣本轉換完成時,可讀取結果。

(素材來源:21ic.如涉版權請聯系刪除。特別感謝)

需要高編碼器精度的一個例子是當電機以較低速度運行時,即電機開始減速,然后到達目標位置的情況。使用AD7380的片內過采樣技術可對正弦和余弦信號進行數字濾波,從而實現高動態范圍。增強的正弦和余弦轉換導致角位置精度更高,這在很多應用中是必需的,例如將微型元器件安裝到印刷電路板(PCB)的取放機器,或工業機械中用于運輸和移動載荷到特定位置的機械臂。

過采樣是一種數據處理技術,可使ADC提供準確轉換結果。SAR ADC過去在通過微控制器、DSP或FPGA進行的后處理中使用了這種技術。ADI公司的高速SAR ADC系列,例如AD7380,已將此功能集成到兩種片內過采樣技術中,即正常平均和滾動平均。通過SDOx引腳可以直接而快速地獲得平均轉換結果,成效顯著,并立即體現在ADC參數中,例如SNR和全動態范圍。

制造商:Amphenol產品種類:環形MIL規格連接器RoHS:是位置數量:18 Position插入安排:14-18觸點類型:Pin (Male)MIL 類型:MIL-DTL-26482 II產品:Receptacles外殼大小:14外殼類型:Wall Mount安裝風格:Wall端接類型:Crimp電流額定值:7.5 A系列:Matrix 26482 II安裝角:Straight電壓額定值:600 V商標:Amphenol Aerospace外殼電鍍:Electroless Nickel匹配樣式:Bayonet產品類型:Circular MIL Spec Connector外殼材質:Aluminum工廠包裝數量:1子類別:Circular Connectors商標名:26482線規:24-20


平均濾波后的噪聲,根據奈奎斯特理論(fSAMPLING ≥ (2 × fIN)),為了準確重構信號,必須以至少兩倍于目標最大頻率的速率對輸入信號進行采樣。為使過采樣發生,也要遵循同樣的標準。過采樣會降低信號的噪聲,導致系統SNR增加,從而分辨率得以提高(假設沒有明顯的失真成分)。

過采樣是一種數字信號處理技術,采集樣本后取其平均值。數據樣本平均類似低通濾波器。

在AD7380 SAR ADC系列中,正常平均過采樣是在芯片內實現,最多可以收集32個平均樣本。只要使能此技術,AD7380就會自動采集M個轉換樣本,然后輸出平均轉換結果。轉換結果是否可獲得取決于所采集的M個樣本,后者由AD7380系列的CONFIGURATION1寄存器中OSR位的過采樣率設置。當M個樣本轉換完成時,可讀取結果。

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