DDR2 SDRAM產品在上電使用前需進行初始化,并對模式寄存器（Mode Register）進行配置,確定所需要的突發長度（Burst Length）、突發類型（Burst Type）,CAS 延時等。

交流參數表征的是芯片的工作性能，一般用搜索法來測試交流參數,在Magnum 2測試系統上測試tAC參數為例來介紹測試機如何進行交流參數的測試，tAC時鐘上升沿到數據輸出延時（Address to Output Delay），該參數越小則產品響應速度越快。

搜索法的具體思路為假設t0時刻地址有效，隨后在t0+tSTEP進行讀數據，如果讀取成功，則tAC=t0+tSTEP，如果讀取失敗則在t0+2tSTEP時讀取數據，如此循環直到讀取成功為止。

當滑動窗關上時,可用操縱手柄操縱窗上的鎖閂插人窗框孔中而鎖住。裝在滑輪軌道內的兩個鎖柱用來鎖住操縱手柄,一個在窗戶全開時使用,另一個在窗戶全關時使用。

開窗時,壓下操縱手柄上的松開銷,先向里再向后拉操縱手柄,就可使鎖閘從窗框孔中抽出,并使窗戶沿軌道向后滑動而打開,直到手柄與后面的一個鎖柱較合為止。

在緊急情況下,可將該窗取下,成為機組人員的應急出口c取下該窗的方法是:先將轉動臂上的白色標記與“窗戶拋棄”標牌上的標記對齊,然后抽出快卸銷,再向下拉拋棄手柄,使上滾子脫離軌道,即可取下。

在控制器一端(MCU、FPGA、DSP)使用簡單的校準系數。但是，這樣有兩大缺點：需要額外的控制器資源，以及器件與器件之間的輸入阻抗差異會導致誤差。

為了顯示與后端校準相比，片內校準所具備的優勢，我們測量了一系列AD7606C-18裝置(,在測量時，假設輸入阻抗始終為典型值(RIN=1.2MΩ)。

與片內校準相媲美。這意味著它的實際輸入阻抗(RIN)非常接近典型值,實際輸入阻抗(RIN)稍微高于典型值,片內校準保持所有裝置和RFILTER值的總誤差均低于0.03%。