獲得的失效模式分布MSM6250數據中可知，我國電子元器件的電性能穩定性比較差，因此，通過分析其原因，提高電子元器件的電性能穩定性是電子元器件可靠性設計的一項重要任務。

    通過功能測試（功能和參數）和非功能測試可獲得電性能穩定性數據信息。功能測試的目的是檢查電子元器件能否完成基本功能以及完成基本功能的優劣；非功能測試可供分析電子元器件與其自身物理性能的關系。用功能測試能得出電子元器件的失效模式，但難以確定失效部位和失效原因，而非功能測試是確定失效部位和失效原因的有力工具。為了能取長補短、互相驗證，通常將功能測試和非功能測試結合起來應用。
    對于半導體器件還可利用其輸出特性曲線的形狀進行判斷，因為半導體器件輸出特性曲線形象地反映了其內部所發生的物理過程，即異常的輸出特性曲線能反映出半導體器件工藝制造、結構和材料中存在的問題。通過對輸出特性曲線的檢查分析，可以幫助鑒定某些失效問題，這是檢查不可靠器件存在隱患的良好而又簡便的方法。在設計時針對半導體器件的這些典型異常特性曲線及產生原因，就可采取有效的措施加以消除或控制，從而達到提高器件可靠性的目的。