ESDR失效模擬
發布時間:2012/4/22 17:12:28 訪問次數:4715
已經提出了基于熱或電一熱的分析模型FS992-DMM4來描述電路的ESD失效現象。熱模型假定ESD失效與臨界溫度有關，其電參數與溫度無關，而溫度與在應力下傳到器件的功耗有關。對于局部平行六面體熱源的熱方程求解，可以得出功耗一失效(Pf)與時間一失效(tf)的表達式，如圖2.43所示。失效的標準與器件的二次擊穿有關，以前述圖2. 24中的IT2作為指針。盡管存在關于精確的熱失效標準的爭論，在實際的ESD模擬和設計中，IT2提供了合理的ESD失效指示。在集成電路ESD失效機理，尤其是潛在ESD失效方面的研究正在進行深入的研究。
已經提出了基于熱或電一熱的分析模型FS992-DMM4來描述電路的ESD失效現象。熱模型假定ESD失效與臨界溫度有關，其電參數與溫度無關，而溫度與在應力下傳到器件的功耗有關。對于局部平行六面體熱源的熱方程求解，可以得出功耗一失效(Pf)與時間一失效(tf)的表達式，如圖2.43所示。失效的標準與器件的二次擊穿有關，以前述圖2. 24中的IT2作為指針。盡管存在關于精確的熱失效標準的爭論，在實際的ESD模擬和設計中，IT2提供了合理的ESD失效指示。在集成電路ESD失效機理，尤其是潛在ESD失效方面的研究正在進行深入的研究。
相關技術資料- 4-22ESDR失效模擬
- 相關IC型號
- FS992-DMM4
- 暫無最新型號
公網安備44030402000607
