電容器的失效模式和失效機理
發布時間:2012/5/3 19:26:01 訪問次數:837
電容器常見的失效模式有擊穿、開路、電SAF82526N參數退化（包括電客量變化、損耗角正切值增大、直流漏電流值增大等）、引線腐蝕（斷裂）等。為能幫助讀者了解產生電容器各種失效模式的原因，進行針對性的可靠性設計，在此對擊穿、開路、電參數退化等失效模式的失效機理進行分析。
(1)擊穿的主要失效機理
①介質中有疵點或缺陷，存在雜質或導電粒子。
②電介質的老化。
③離子遷移。
④電介質在制造過程中的機械損傷。
⑤在高溫或低氣壓環境下極間邊緣飛弧。
⑥在機械應力的作用下電介質瞬間短路。
(2)開路的主要失效機理
①因擊穿引起電極和引出線相絕緣。
②工作電解質的干涸。
③工作電解質的凍結。
④引出線與電極接觸不良。
⑤在機械應力作用下，工作電解質和電介質之間的瞬時開路。
(3)電參數退化的主要失效機理
①潮濕的影響。
②離子遷移。
③表面污染。
④自愈效應。
⑤電介質內部缺陷及介質老化或熱分解。
⑥工作電解質的泄漏和變化。
⑦電極腐蝕。
⑧雜質和有害離子的影響。
⑨引線和電極接觸電阻增大。
(1)擊穿的主要失效機理
①介質中有疵點或缺陷，存在雜質或導電粒子。
②電介質的老化。
③離子遷移。
④電介質在制造過程中的機械損傷。
⑤在高溫或低氣壓環境下極間邊緣飛弧。
⑥在機械應力的作用下電介質瞬間短路。
(2)開路的主要失效機理
①因擊穿引起電極和引出線相絕緣。
②工作電解質的干涸。
③工作電解質的凍結。
④引出線與電極接觸不良。
⑤在機械應力作用下，工作電解質和電介質之間的瞬時開路。
(3)電參數退化的主要失效機理
①潮濕的影響。
②離子遷移。
③表面污染。
④自愈效應。
⑤電介質內部缺陷及介質老化或熱分解。
⑥工作電解質的泄漏和變化。
⑦電極腐蝕。
⑧雜質和有害離子的影響。
⑨引線和電極接觸電阻增大。
電容器常見的失效模式有擊穿、開路、電SAF82526N參數退化（包括電客量變化、損耗角正切值增大、直流漏電流值增大等）、引線腐蝕（斷裂）等。為能幫助讀者了解產生電容器各種失效模式的原因，進行針對性的可靠性設計，在此對擊穿、開路、電參數退化等失效模式的失效機理進行分析。
(1)擊穿的主要失效機理
①介質中有疵點或缺陷，存在雜質或導電粒子。
②電介質的老化。
③離子遷移。
④電介質在制造過程中的機械損傷。
⑤在高溫或低氣壓環境下極間邊緣飛弧。
⑥在機械應力的作用下電介質瞬間短路。
(2)開路的主要失效機理
①因擊穿引起電極和引出線相絕緣。
②工作電解質的干涸。
③工作電解質的凍結。
④引出線與電極接觸不良。
⑤在機械應力作用下，工作電解質和電介質之間的瞬時開路。
(3)電參數退化的主要失效機理
①潮濕的影響。
②離子遷移。
③表面污染。
④自愈效應。
⑤電介質內部缺陷及介質老化或熱分解。
⑥工作電解質的泄漏和變化。
⑦電極腐蝕。
⑧雜質和有害離子的影響。
⑨引線和電極接觸電阻增大。
(1)擊穿的主要失效機理
①介質中有疵點或缺陷，存在雜質或導電粒子。
②電介質的老化。
③離子遷移。
④電介質在制造過程中的機械損傷。
⑤在高溫或低氣壓環境下極間邊緣飛弧。
⑥在機械應力的作用下電介質瞬間短路。
(2)開路的主要失效機理
①因擊穿引起電極和引出線相絕緣。
②工作電解質的干涸。
③工作電解質的凍結。
④引出線與電極接觸不良。
⑤在機械應力作用下，工作電解質和電介質之間的瞬時開路。
(3)電參數退化的主要失效機理
①潮濕的影響。
②離子遷移。
③表面污染。
④自愈效應。
⑤電介質內部缺陷及介質老化或熱分解。
⑥工作電解質的泄漏和變化。
⑦電極腐蝕。
⑧雜質和有害離子的影響。
⑨引線和電極接觸電阻增大。
上一篇：可靠性評價試驗設計
相關技術資料- 5-3電容器的失效模式和失效機理
熱門點擊
公網安備44030402000607
