CCD器件在結構上都是由一個個像元組成，由于原理與制造上的限制，EP1C6Q240C8為了防止相鄰像元在轉移脈沖驅動下引起串擾，同時要保證CCD像元具有足夠大的感光面積，CCD的像元感光面積以及像元與像元之間的距離都不能做的很小，一般為微米量級。對于高精度的測量，提高CCD測量系統的精度難以提高CCD本身的精度。利用圖像處理算法來實現CCD亞像元技術正是針對CCD的這一瓶頸而提出的。

   在光學測量系統中經常將激光作為基準，激光光斑的中心代表了光線在空間的位置，所以激光光斑中心的檢測決定了測量的精度。傳統的光斑中心檢測算法有重心法、中值法及Hough變換法。為了提高光斑中心的定位精度，目前大量引入了亞像素的定位方法，通過選用合適的數據處理方法可使定位精度小于像素級度。

   激光光斑中心定位需要首先確定激先光斑的邊緣位置，然后再計算出光斑中心位置。光斑邊緣檢測可以采用很多種邊緣檢測方法，如Roberts梯度算子、Sobel梯度算子、LOG算子、Canny算子（像素級定位）、八鄰域方法（像素級定位）以及矩方法（亞像素定位）等邊緣檢測方法對光斑邊緣進行提取；再對光斑中心進行亞像素精確定位，可以用重心法、曲線擬合法等。