對于可靠性高的電子元器件進行長期壽命試驗，無論是從成本還是從時間上來看，C0402KRX7R9BB221都是不合算的，甚至是不可能的。例如，人造地球衛星上所使用的電子元器件，要求失效率小于2.6×10-8/小時，如果要驗證它，抽取1000個元件進行試驗，若允許5個元件失效，則需試驗22年。而對可靠性要求更高的元件，如果要求失效率小于l0-lo／小時，若按上面的試驗方案，則需要進行大約5700年的壽命試驗，顯然這是不可能的。如果將壽命試驗時間縮短為

1000小時，則試驗元件數將分別增加到1.9×105和5×107個。這樣大量的試驗，從人力或物力上都是極難實現的，甚至是不可能實現的。因此，提出了加速壽命試驗的方法。

   加速壽命試驗的目的概括起來有以下幾個。

   1)可以在較短時間內用較少的元器件估計高度可靠元器件的高可靠性水平，運用外推的方法能快速預測元器件在額定或實際使用條件下的可靠度或失效率；

   2)可以在較短時間內提供試驗結果，檢驗工藝改進效果，或比較不同工藝的好壞，對元器件可靠性設計和可靠性增長的效果進行評價；

   3)在較短時間內暴露元器件的失效類型及形式，以使對失效機理進行研究，找出失效原因，從而可正確地確立失效判據和失效條件，為提高產品可靠性提供依據；

   4)比較可靠性篩選效果，確定最好的篩選方法，以便選擇恰當的篩選方法，淘汰早期失效的產品；

   5)測定元器件某些極限的使用條件。

   但是，加速壽命試驗不能完全代替正常使用條件下的壽命試驗，它只是對壽命試驗的一種近似估計。這是因為加速壽命試驗目前還存在不少困難；其一是對試驗方法及測試條件的保證有嚴格的要求；其二是為了對試驗結果做出正確的解釋，必須對產品的失效機理有較好的了解；其三是有多次的試驗結果需要進行比較和分析。但是，由于加速試驗在理論上有一定的根據，而且能在較短的時間內對產品的可靠性做出估計，因此該方法仍被廣泛地采用。