內表面粗糙度測量儀的光路
發布時間:2016/2/17 20:00:26 訪問次數:780
圖11.9所示是一種光纖傳感器式內表面粗糙度測量儀的光路圖。由半導體激光器1發出的光束經自聚焦光纖2準直后,再經測量透鏡3、反射鏡4照射到試件5的內表面上,AAT3238IGU-2.5-T1并由試件5反射,返回的光束再經4、3照射到光電二極管陣列6。
設計的光路布局增加一個反射鏡,‘避免了采用接觸式測量方法而存在的零件表面易劃傷、測量時間長等缺點,并具備如下優點:
①試件上光斑大小與測量透鏡和準直光纖的相對位置無關。
②試件上測量區域相對測量透鏡形成遠心光路,對光電二極管陣列和測量透鏡在光軸方向上的位置精度要求不高。
③光路相對測量透鏡光軸對稱,避免激光束反射回光影響。
采用光纖法在線測量表面粗糙度的優點是測量速度快,適用于內表面粗糙度測量。其缺點主要是測量誤差大,測量范圍小,而且光纖的數值孔徑較小,這樣接收的散射光信息有限。因此光纖法的應用也受到了一定的限制。
上述幾種方法都可以進行表面粗糙度的在線檢測,但是存在的共同問題是光路結構復雜,成本高,并且測量范圍受原埋限制(Ra< 10 nm),對表面粗糙度不是面積采樣,要完成一次測量需要輔助以垂直加工紋理方向的掃描運動,這樣測量周期也就較長,同時它們對測頭和試件相對位置要求很高,使得調整困難。而利用光纖作為探頭基于光散射原理的表面粗糙度在線檢測,由于受散射角變化的影響很大,從原理上來講,其測量差較高,測量范圍也較小;另一方面,光纖數值孔徑較小,這樣接收的散射光信息十分有限,都使得其應用受到極大限制。
圖11.9所示是一種光纖傳感器式內表面粗糙度測量儀的光路圖。由半導體激光器1發出的光束經自聚焦光纖2準直后,再經測量透鏡3、反射鏡4照射到試件5的內表面上,AAT3238IGU-2.5-T1并由試件5反射,返回的光束再經4、3照射到光電二極管陣列6。
設計的光路布局增加一個反射鏡,‘避免了采用接觸式測量方法而存在的零件表面易劃傷、測量時間長等缺點,并具備如下優點:
①試件上光斑大小與測量透鏡和準直光纖的相對位置無關。
②試件上測量區域相對測量透鏡形成遠心光路,對光電二極管陣列和測量透鏡在光軸方向上的位置精度要求不高。
③光路相對測量透鏡光軸對稱,避免激光束反射回光影響。
采用光纖法在線測量表面粗糙度的優點是測量速度快,適用于內表面粗糙度測量。其缺點主要是測量誤差大,測量范圍小,而且光纖的數值孔徑較小,這樣接收的散射光信息有限。因此光纖法的應用也受到了一定的限制。
上述幾種方法都可以進行表面粗糙度的在線檢測,但是存在的共同問題是光路結構復雜,成本高,并且測量范圍受原埋限制(Ra< 10 nm),對表面粗糙度不是面積采樣,要完成一次測量需要輔助以垂直加工紋理方向的掃描運動,這樣測量周期也就較長,同時它們對測頭和試件相對位置要求很高,使得調整困難。而利用光纖作為探頭基于光散射原理的表面粗糙度在線檢測,由于受散射角變化的影響很大,從原理上來講,其測量差較高,測量范圍也較小;另一方面,光纖數值孔徑較小,這樣接收的散射光信息十分有限,都使得其應用受到極大限制。
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