LED芯片測試
發布時間:2016/11/5 19:26:18 訪問次數:1519
芯片制造完成后,使用專JANTX2N7236用點測機通以⒛lllA的電流進行測試,一采取在芯片的不同位置抽取九個點做參數測試(見圖5-26),主要對電壓、波長、亮度進行測試,具體測試參數為正向置作電壓(VF)、反向漏電流(IR)、波長(WLD)和光輸出(LoP)。九點測試后合格的產品被切割成芯片,并用光學顯微鏡進行目檢(VI″C),接著使用全自動分類機根據不同的電壓,波長,亮度的參數對芯片進行全自動化挑選、測試和分類。
芯片制造完成后,使用專JANTX2N7236用點測機通以⒛lllA的電流進行測試,一采取在芯片的不同位置抽取九個點做參數測試(見圖5-26),主要對電壓、波長、亮度進行測試,具體測試參數為正向置作電壓(VF)、反向漏電流(IR)、波長(WLD)和光輸出(LoP)。九點測試后合格的產品被切割成芯片,并用光學顯微鏡進行目檢(VI″C),接著使用全自動分類機根據不同的電壓,波長,亮度的參數對芯片進行全自動化挑選、測試和分類。
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