不僅如此,再仔細分析一下圖276所示的情況,金屬屏蔽外殼的增加,還使開關電源內部電路噪聲的耦合關系發生了什么變化。以開關電源PCB中開關信號所在點(高dI//dr)與開關電源輸入電源線之間的耦合關系為例,在無金屬屏蔽外殼時,其間耦合關系原理如圖2。刀所示, EDD10161BBH-6ETS-F在這種情況下,只要PCB布局布線合理,圖2.刀中開關電源PCB中開關信號所在點與開關電源輸人電源線之間的寄生電容C出,Cψ均比較小(一般在零點幾皮法);而當存在金屬外殼時,由于金屬板的存在,使開關電源PCB中開關信號所在點(高dIr/dr)與開關電源輸入電源線之間的寄生電容等于圖2.78中開關電源PCB中開關信號所在點(高dydf)與金屬外殼之間的寄生電容C′⒌與開關電源輸入電源線之間的與金屬外殼之間的寄生電容C′叼的串聯。由于開關電源PCB中開關信號所在點(高d〃/d莎)與開關電源輸人電源線到金屬板的距離(幾厘米)要比到參考接地板的距離(1m左右)近很多,使得C′⒏C′s2要遠遠大于CsI、Cs2。即開關電源PCB中開關信號所在點(高d〃d苫)與開關電源輸人電源線之間的耦合大大加重,流入電源輸入線的共模電流大大增加,輻射也大大增加。這就是本案例中出現金屬屏蔽外殼反而導致輻射發射測試失敗的原因。當金屬外殼與PCB中的0Ⅴ相連后,雖然圖2.78所示的寄生電容C′M、C′s2依然存在,但是C′⒌、C′汾互連點上的電位為零,導致來自于C′"共模電流不會繼續往C′s2流動,從而減小了流向開關電源輸人電纜 的共模電流,降低輻射發射。