如果采用兩束不同頻率的相干光源，各自獨立地組成干涉

光路， T7234AML使其中一束光頻為已知，另一束為未知，則對應共用測量反射鏡的同一位移，兩束光各自形成干涉條紋。經光電檢測后形成兩組獨立的電信號，通過電信號頻率的比較可以計算出未知光波的波長。這種對應同一位移、比較不同波長的兩個光束干涉條紋的變化差異的方法稱為干涉條紋比較法。從這種原理出發，設計出了許多精確測量波長的波長計。

     是波長測量精度為10-7的條紋比較法波長測量的原理圖。已知波長為九的基準波和被測波長為以的被測光波由半反半透鏡1分別透射到放置于移動工作臺上的兩個圓錐角反射鏡2和3上。使兩束光的入射位置分別處于弧矢和子午方向，保證它們在空間上彼此分開。每束光束的逆時針反射光和順時針反射光在各自的光電檢測器D，和D。上形成干涉條紋。對應于工作臺的同一位移，由于兩束光的波長不同，產生的干涉條紋也有不同的變化周期，因而對應的光電信號顯示出不同的頻率。精確地測量出兩信號的頻率比值，根據基準波長的數值即能計算出被測波長值，頻率比的測量采用了鎖相振蕩計數的做法。兩個鎖相振蕩器分別與D，和D。輸出的光電信號Ur和鞏同步，產生與以和奴的干涉條紋同頻的整形脈沖信號。其中與以對應的脈沖信號經M倍頻器進行頻率倍頻，而與A。對應的信號則進行Ⅳ倍分頻。利用脈沖開關，由Ⅳ分頻信號控制M倍頻信號進行脈沖計數，最后由顯示器輸出。