通過外部電性測試/表征,來判斷器件是否失效。 SY88903VKG

   (1)為F證實器件失效,失效分析T作者在驗證時常需要嘗試不同的測試條件,盡量模擬可能的失效狀況。對soft failurc或間歇性失效,常用schm∞圖,即在ATE/測試機測試時只改變其屮一個參數,如電壓、溫度、頻率、脈沖寬度等,來表征器件的好/壞界限和判斷器

件正常T作的區問。要注意的是,上述步驟均是非破壞性分析,在操作時,要避免引入新的失效機理,或導致器件參數改變/惡化,發生二次失效現象。

   (2)在初步驗證參數時,先低電壓、小電流,再適當逐步增加。但不可超過數據手冊(Date Shee0規定的卜限,以防過載,或引起閘歇性失效復原。

   (3)嚴格遵守相關器件使用的注意事項。對高阻抗(impCdancc)器件,如M()S,低功率Schottky TTI'等,要特別注意預防E()S/E⒏D損傷。

  根據所確定的失效模式擬定后續分析/測試的計劃