測試入門簡介
發布時間:2008/6/5 0:00:00 訪問次數:849
1----測試簡介
2----測試硬件簡介---測試機(tester)
3----測試硬件簡介---測試手臂(handler and prober)
4----測試硬件簡介---探針卡(prober card)
5----測試硬件簡介---測試座(socket)
6----測試硬件簡介---測試板(loadboard and wpi)
7----測試方法簡介---開短路測試(openshort)
8----測試方法簡介---漏電路測試(pin leakage)
9----測試方法簡介---level測試(vil/vih,vol/iol,voh/ioh)
10----測試方法簡介---電源電流測試(idd)
11----測試方法簡介---ac測試
12----測試方法簡介---功能測試(fouctional test)
13----測試方法簡介---掃描測試(scan test)
14----測試方法簡介---自建測試(bist test)
15----測試方法簡介---混頻測試(adc)
16----測試方法簡介---混頻測試(dac)
17----測試程序開發(test program create)
18----測試開發---基于缺陷開發final test 程序技術(dot-ft)
19----測試開發---多頭測試技術(multi-sites test)
20----測試開發---多核測試技術(multi-ports test)
21----如何debug
2----測試硬件簡介---測試機(tester)
3----測試硬件簡介---測試手臂(handler and prober)
4----測試硬件簡介---探針卡(prober card)
5----測試硬件簡介---測試座(socket)
6----測試硬件簡介---測試板(loadboard and wpi)
7----測試方法簡介---開短路測試(openshort)
8----測試方法簡介---漏電路測試(pin leakage)
9----測試方法簡介---level測試(vil/vih,vol/iol,voh/ioh)
10----測試方法簡介---電源電流測試(idd)
11----測試方法簡介---ac測試
12----測試方法簡介---功能測試(fouctional test)
13----測試方法簡介---掃描測試(scan test)
14----測試方法簡介---自建測試(bist test)
15----測試方法簡介---混頻測試(adc)
16----測試方法簡介---混頻測試(dac)
17----測試程序開發(test program create)
18----測試開發---基于缺陷開發final test 程序技術(dot-ft)
19----測試開發---多頭測試技術(multi-sites test)
20----測試開發---多核測試技術(multi-ports test)
21----如何debug
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2----測試硬件簡介---測試機(tester)
3----測試硬件簡介---測試手臂(handler and prober)
4----測試硬件簡介---探針卡(prober card)
5----測試硬件簡介---測試座(socket)
6----測試硬件簡介---測試板(loadboard and wpi)
7----測試方法簡介---開短路測試(openshort)
8----測試方法簡介---漏電路測試(pin leakage)
9----測試方法簡介---level測試(vil/vih,vol/iol,voh/ioh)
10----測試方法簡介---電源電流測試(idd)
11----測試方法簡介---ac測試
12----測試方法簡介---功能測試(fouctional test)
13----測試方法簡介---掃描測試(scan test)
14----測試方法簡介---自建測試(bist test)
15----測試方法簡介---混頻測試(adc)
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18----測試開發---基于缺陷開發final test 程序技術(dot-ft)
19----測試開發---多頭測試技術(multi-sites test)
20----測試開發---多核測試技術(multi-ports test)
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10----測試方法簡介---電源電流測試(idd)
11----測試方法簡介---ac測試
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18----測試開發---基于缺陷開發final test 程序技術(dot-ft)
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20----測試開發---多核測試技術(multi-ports test)
21----如何debug