通常稱妒為微量，F25L16PA-100PAG2S妒2就是二階微量，所以稱81為一階誤差或正弦誤差，82稱為二階誤差或余弦誤差。

   安置方式雖然也是并聯，但顯微鏡作y向移動，繞戈軸轉動時不產生誤差，繞y軸、z軸轉動時只引起二階誤差。因為工作時作橫向移動，所以這種方式適用于固定長度的比較。

   根據上面的分析，可以得到阿貝原則的設計要點，即當長度測量時，標準件應安置在被測量中心線的延長線上，做到這一點就可以避免一階誤差。

   阿貝原則不僅是儀器的設計原則，在使用儀器時也應遵循這一原則，即在測量時應盡量將被測件安置到標準件的延長線上或最靠近的程度，例如用卡尺測量時，應盡量將被測工件靠近尺身。

   遵循阿貝原則的設計雖然可以消除一階誤差，提高了儀器的精度，但給儀器的結構帶來了問題。它要求儀器的長度至少是被測長度的兩倍，在大尺寸測量中，這一矛盾是很突出的。困此，為了減少阿貝誤差的影響，設計者應考慮采取減小或消除誤差影響的措施 。