在光電儀器的總體設計中，F25L016A-50PAG很重要的一個方面是要求考慮各種謾計原則在設計中應如何應用，以及應采取何種措施。可以說正確掌握這些原則和措施，將有助于所設計的儀器達到需要的技術指標（質量指標）。下面就有關主要的設計原則、設計原理的內容和考慮方法等問題，作進一步討論。

   阿貝原則及其擴展

   阿貝原則是儀器設計中一個非常重要的設計原則，在設計時應盡量遵守這一原則。

   古典的阿貝原則是阿貝于1890年提出的一項量儀設計的指導性原則。他說：“要使量儀給出準確的測量結果，必須將被測件布置在基準元件沿運動方向的延長線上。”因此，也可稱作共線原則。

   為了說明阿貝原則，分析在線紋尺計量方式中的三種基本方式。

   標準尺與被測尺安裝在xOy平面內，瞄準用顯微鏡M，與讀數顯微鏡M2都剛性地固定在懸臂支架B上。工作時先用M．、M：瞄準，后移動工作臺（或支架），再對準測量，兩次讀數之差即被測量的尺寸。由于在移動過程中，導軌等不可能是理想的，總要伴隨一些非測量需要的運動，不論這附加的運動有多復雜，總可以分解成沿戈、扎z三個軸的移動及繞x、y、z軸的三個轉動。三個移動對兩只顯微鏡的作用相同，因此對測量結果沒有影響。