耗損失效期出現在產品的后期，AS7C164-15JC其特點剛好與早期失效期相反。失效率隨試驗或工作時間增加而迅速上升，出現大批失效。耗損失效是由于產品長期使用而產生的損耗、磨損、老化、疲勞等原因所引起的。它是構成元器件本身的材料長期化學、物理不可逆變化所造成的，是產品壽命的“終了”。

   耗損失效期的失效概率分布函數與m>l的威布爾函數所描述的曲線相同。

   但是，對于實際電子產品并不一定都出現上述三個階段。例如，工藝質量且控制很妤的金屬膜電阻有時就不出現早期失效期，又如某些半導體器件就沒有發生耗損失效期。至于個別產品由于設計、生產工藝不合理，只有早期失效期和耗損失效期，這是由于產品質量過于低劣，此種產品不能正常使用。從上述“浴盆曲線”也可看出，在成批產品中，有些產品的失效率曲線是遞增型、遞減型和常數型，而宏觀表現出的是由三種類型的失效率曲線疊加而成，如圖2.4所示。

    圖2.4三種不同類型的失效率曲線