①由于淘測試必須在過渡狀態結束后進行,輸入測試向量的上升/下降延遲時間rr和rf都會影響r陽測試的速度;VEJ470M1V0606-TR0

    ②馬m電流激增只出現在特定的測試向量;

   ③復雜電路中可能有大量的翻轉動作持續進行,這就意味著全局的靜態狀態很少。與此相關的一些參數和其典型值有:

   ・平均門翻轉時間

   ・正常門平均靜態電流

   ・短路電阻典型值為100Ω~20kΩ;

   ・IrIkl測試要求電流靈敏度為1~50mA;

    測試的取樣頻率為10~100kHz。

    測試方案有以下三種。

    (1)每向量測試一次

    在每個測試向量后停頓,進行rmn測試。這將非常耗時,對有200000個測試向量的測試圖形,若包含rmn測試的每向量測試時間為100灬,貝刂完成整個測試需要20s。

    (2)對測試圖形有選擇地進行rmn測試

   通常是隨機地選擇測試圖形中的某些向量進行測試。統計證明,對完整ATPG測試的1%進行JI lx測試,即可達到同每向量測試一次相同的短路失效覆蓋率。

    (3)增補測試圖形

    專為試設計一套測試圖形,與其他測試內容分開單獨進行,每向量測試一次。基于短路失效模型,分析每一條VrD到地的可能存在的通路,由此產生的測試圖形最為有效。進行Il η測試的方法有兩種:片外測試和芯片內監控。后者也稱為內建電流測試(BtIlld亠nCurrent TⅡt,BIC T∞t)。由于VI'SI中的絕大部分都采用CMOS工藝,Fr,L,Q測試對純數字及數模混合電路測試都是一種有效的手段。