傳統上,IC測試與設計的關系只是測試時以設計為標準和依據,設計出相應的測試方案。這種T74LS174情況隨著集成電路的發展也產生著必然的變化。由于電路規模的增大、電路結構的復雜化,℃測試的難度也隨之增加。為了降低測試成本,在設計階段考慮到測試的需要,增加相應的結構,以降低測試難度,這就是可測性設計(DFT)。

   DFT的基本原則可概括如下:

   ①將模擬部分與數字部分在物理結構和電學性能上盡可能分開;

   ②電路內部所有鎖存器和觸發器可以初始化;

   ③避免所有可能的異步和多余結構;

   ④避免出現競爭;

   ⑤提供內部模塊的控制、檢測手段;

   ⑥反饋通路可以斷開;

   ⑦謹慎使用有線邏輯;

   ⑧使用控制、測試點;

   ⑨使用分割、選擇控制。