半導體分立器件綜合測試系統具有以下發展趨勢:

   (1)通用性:能夠測試常用的多種類型分立器件,包括二極管、三極管、功率晶體管、光電器件等。A14100-CQ256B

   (2)自動化:在生產線上,用戶只要編寫好測試軟件及選擇好測試配件后,便可直接對被測對象進行自動化測試,測試系統結合測試分選機可以根據測試結果對被測器件進行分類。

   (3)高速測量:通常的測試系統能在ls內完成2~4個半導體分立器件的所有特性參數測試(測試對象不同測試時間不同)。這種效率是傳統人工測試方法無法比擬的,提高了生產成品的檢測效率。

   (4)多線程測試:結合了嵌入式技術、軟件多線程運行技術,測試儀器可以多路高精度測試通道同時工作,大幅度提高了測試效率。

   (5)可操控性:測試設備可以實現脫機測試,整個測試過程由測試設備中的嵌入式CPU來控制,并將測試數據存儲于測試設備中的存儲器。另外也可以選擇整個測量過程由計算機終端進行控制和記錄,參數測試種類完全面對用戶需求,測量結果和統計結果均可在顯示器上實時顯示,極大地方便了對整個生產流程的規范化管理。

   雖然經過近些年的發展,國內在半導體分立器件綜合測試方面有了較大的提高,但和國外相比還是有一定的差距,未來應研發高精度、多功能的測試儀,推動我國半導體分立器件產業的發展。