電子元器件、零部件的壽命、失效率SGM358YS/TR是與其承受的電應力緊密相關的，降低其承受的電應力可以提高其使用中的可靠性。對于發熱的電子元器件，如電真空器件、半導體器件、集成塊以及電阻器、電容器、變壓器、扼流圈等類產品更是要考慮電應力的影響。

    圖1. 11是額定溫度為70℃金屬膜電阻器的功率降額曲線圖。從圖中可看出，超過額定溫度(70℃)時，必須降低額定功耗，如當溫度為100℃時，所用的工作功率與額定功率之比為40%。反過來，當電應力較低時，溫度應力又可適當升高。

    電應力對電子元器件失效率的影響程度是通過模型中的參數值大小來反映的，不同的參數值（參數值的獲得可通過解模型方程）決定了基本失效率曲線的不同形狀，即反映了電子元器件失效率隨電應力和溫度應力變化的快慢。對于同一
類別的電子元器件，盡管采用的是同一基本失效率模型，但由于模型參數值不同，所反映出的基本失效率曲線形狀不同，即失效率隨電應力和溫度應力變化的快慢不同。例如，電阻器類別中的合成電阻器、金屬膜電阻器、線繞電阻器、熱敏電阻器、壓敏電阻器等其模型參數各不同，其基本失效率水平不網，曲線形狀不同。圖1. 12是額定溫度為70℃的金屬膜電阻器的基本失效率隨電應力和溫度應力變化的曲線圖‘．2]。從圖中可看到，當電應力比（額定功耗比）為1（即100%）時、溫度為70℃，電阻器的基本失效率為0.0024×l0-6／h，這個值和電應力比為0.7、溫度為90℃時，或電應力比為0.3、溫度為120℃時是同的。也就是說，工作電應力的升高或降低對產品的固有可靠性產生直接影響。
    由此可見，要降低電應力對電子元器件失效率的影響，除了用戶單位降額使用電子元器件外，最主要的是電子元器件研制單位要采用耐電應力的設計措施，使電子元器件的失效率隨電應力的變化速率減慢。