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注意響應的差異

發布時間:2012/10/27 20:10:12 訪問次數:767

    響應的差異主要是指共振TLV5617AID時幅值的不同和共振頻率的不同,表現如下。
    振動試驗通常在三條互相垂直的軸線上進行,各自的共振頻率和共振幅值往往是不相同的。
    隨著掃頻方向的不同,即從fi掃到f2和從正回掃到fi,兩者所得出的共振頗率也是有差異的,這點在比較耐久試驗前后的共振頻率是否發生變化時,應給予充分注意。
    樣品的局部共振頻率及其幅值往往不同于樣品整體的共振頻率及其幅值。因此,常需要探測樣品內部的局部共振響應。在探測局部共振時,通常在被探測單元上安裝傳感器,例如將傳感器安裝在印制電路板上、大型組件上、微型組件上。但這種安裝不得改變被安裝單元本身的動態特性,否則測出來的共振頻率和響應幅值將不準確。
    注意做好觀測和記錄
    應注意觀測及記錄初始及最后振動響應檢查中的各危險頻率(特別是共振頻率)上的響應幅值和激勵幅值,以及各危險頻率上的樣品的性能變化,以便相互比較。
    功能試驗與耐久試驗
    功能試驗的目的是考核產品在振動條件下的電性能特性,試驗時電子設備全時段通電或間斷通電。
    耐久試驗的目的是考核產品強度、剛度、疲勞和壽命,故僅在試驗前和結束后通電。
    其順序是先進行功能試驗,后進行耐久試驗,而且功能試驗的幅值通常小于耐久試驗的幅值(如為耐久試驗的一半)。也可先完成1/2時間功能試驗,然后進行耐久試驗,耐久試驗結束后再完成余下的1/2時間功能試驗。無論采用何種方法,在功試驗期間均要進行功能檢查和電性能檢測。功能試驗和耐久試驗可用下列兩種方法來完成。
    (1)駐留(定頻)試驗:僅需進行預定頻率試驗的產品。因為某些在特定場合使用的產品(如安裝處受到某動力機械振動影響的產品),它所受到的主要振動頻率是已知,或可以測出來的。為了研究產品在某些頻率點上可能出現的疲勞影響,或研究樣品經受振動的總能力,需要對產品進行長時間的(如10 7次應力循環的)試驗。對危險頻率點不超過4個的樣品,用定頻試驗方法進行試驗較為合適。
    (2)掃頻試驗:安裝在各種運輸工具上使用的產品,特別適用于那些結構復雜和封閉式的產品。因為這類產品在實際使用中經受到的是一個很寬頻率范圍的振動。其次是危險頻率點不太明顯,或危險頻率點太多(多于4個)的樣品,或裝有減振器的樣品。為防止在固定頻率上試驗時,因動態放大系數過大而產生不符合實際的過度發熱和損壞的樣品。
    響應的差異主要是指共振TLV5617AID時幅值的不同和共振頻率的不同,表現如下。
    振動試驗通常在三條互相垂直的軸線上進行,各自的共振頻率和共振幅值往往是不相同的。
    隨著掃頻方向的不同,即從fi掃到f2和從正回掃到fi,兩者所得出的共振頗率也是有差異的,這點在比較耐久試驗前后的共振頻率是否發生變化時,應給予充分注意。
    樣品的局部共振頻率及其幅值往往不同于樣品整體的共振頻率及其幅值。因此,常需要探測樣品內部的局部共振響應。在探測局部共振時,通常在被探測單元上安裝傳感器,例如將傳感器安裝在印制電路板上、大型組件上、微型組件上。但這種安裝不得改變被安裝單元本身的動態特性,否則測出來的共振頻率和響應幅值將不準確。
    注意做好觀測和記錄
    應注意觀測及記錄初始及最后振動響應檢查中的各危險頻率(特別是共振頻率)上的響應幅值和激勵幅值,以及各危險頻率上的樣品的性能變化,以便相互比較。
    功能試驗與耐久試驗
    功能試驗的目的是考核產品在振動條件下的電性能特性,試驗時電子設備全時段通電或間斷通電。
    耐久試驗的目的是考核產品強度、剛度、疲勞和壽命,故僅在試驗前和結束后通電。
    其順序是先進行功能試驗,后進行耐久試驗,而且功能試驗的幅值通常小于耐久試驗的幅值(如為耐久試驗的一半)。也可先完成1/2時間功能試驗,然后進行耐久試驗,耐久試驗結束后再完成余下的1/2時間功能試驗。無論采用何種方法,在功試驗期間均要進行功能檢查和電性能檢測。功能試驗和耐久試驗可用下列兩種方法來完成。
    (1)駐留(定頻)試驗:僅需進行預定頻率試驗的產品。因為某些在特定場合使用的產品(如安裝處受到某動力機械振動影響的產品),它所受到的主要振動頻率是已知,或可以測出來的。為了研究產品在某些頻率點上可能出現的疲勞影響,或研究樣品經受振動的總能力,需要對產品進行長時間的(如10 7次應力循環的)試驗。對危險頻率點不超過4個的樣品,用定頻試驗方法進行試驗較為合適。
    (2)掃頻試驗:安裝在各種運輸工具上使用的產品,特別適用于那些結構復雜和封閉式的產品。因為這類產品在實際使用中經受到的是一個很寬頻率范圍的振動。其次是危險頻率點不太明顯,或危險頻率點太多(多于4個)的樣品,或裝有減振器的樣品。為防止在固定頻率上試驗時,因動態放大系數過大而產生不符合實際的過度發熱和損壞的樣品。

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