CMOS電路中的短路情況,可能會造成某一狀態下到地的一條通路,例如,圖14-15(a)中的飛管短路,當輸人向量為01時,Tl、T.、飛就構成了Ⅵx)至地的通路, VEJ221M1VTT-1010LBY此時電源電流將突然增大。針對這樣的情況,rDDQ測試將非常有效。

    CMOS電路中的交叉錯誤同樣會引起失效,并且不能以固定錯誤模型加以描述,尤其是對復雜的CNI(B結構。由此可見,由于CMOS電路特殊的二元性,單純p管或n管部分的失效,給電路測試帶來更多的困難。實際證明,對CMOS集成電路的測試,最有效的方法是功能測試結合馬Jlu測試。

   另外,數字集成電路中還存在一些偶發性錯誤,可分為以下兩類。

   ①傳輸錯誤:射線、電源電壓波動等造成的數據錯誤。

   ②間歇性錯誤:電路中的某些不當造成隨機出現的錯誤。  

   在產生測試圖形時充分考慮以上的問題,以最大限度地覆蓋可能存在的失效。